菲希爾 X-RAY PCB系列熒光儀

FISCHERSCOPE? X-RAY XULM?-PCB是進(jìn)行簡(jiǎn)單測(cè)量和抽查的理想選擇。它配有比例接收器檢測(cè)器，可縮短測(cè)量時(shí)間。該X-RAY 熒光儀推薦用于厚度大于0.1μm的鍍層測(cè)量。

• 標(biāo)準(zhǔn)配置了鎢微聚焦管

• 比例接收器，分析從鉀（19）到鈾（92）之間的元素

• 固定寬敞的樣品臺(tái)，適用于最大610 x 610 mm（24”x 24“）的印刷電路板

• 最大樣品高度：90毫米

• 最小的測(cè)量點(diǎn)約?0.2毫米

• 經(jīng)過(guò)認(rèn)證的全面保護(hù)裝置；

FISCHERSCOPE? X-RAY XDLM?-PCB也是配備了比例接收器。但是，這款X-RAY熒光儀器具備多個(gè)準(zhǔn)直器和過(guò)濾器，因此您可以為您的任務(wù)創(chuàng)建最優(yōu)的測(cè)量條件。基礎(chǔ)配置的版本有一個(gè)抽出式樣品臺(tái)，可以簡(jiǎn)化PCB的定位。有需求時(shí)還可以配備可編程XY工作臺(tái)自動(dòng)測(cè)量

• 適用于標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用的鎢微焦點(diǎn)管

• 可選的3個(gè)可切換濾波器，可為更復(fù)雜的任務(wù)提供更好的激發(fā)條件

• 用于分析從鉀（19）到鈾（92）的元素的比例接收器檢測(cè)器

• 手動(dòng)抽推式或可編程測(cè)量臺(tái)，適用于最大610 x 610 mm（24“x 24”）的印刷電路板

• 最大樣品高度：5mm

• 4個(gè)可切換的準(zhǔn)直器，最小測(cè)量點(diǎn)約?0.2mm；

• 經(jīng)過(guò)許可的全面保護(hù)裝置；

在高可靠性應(yīng)用中，印刷電路板是質(zhì)量關(guān)鍵部件。在這種情況下，采用了符合ENIG和ENEPIG工藝的高端電鍍方式。由于這些工藝中最薄的鍍層厚度在40到100納米之間，比例接收器的精度不足以監(jiān)控該過(guò)程，F(xiàn)ISCHERSCOPE?X-RAY XDV?-μ PCB機(jī)型是監(jiān)控該過(guò)程的正確選擇，高靈敏度硅漂移檢測(cè)器（SDD）和多毛細(xì)管光學(xué)原件的組合可以對(duì)尺寸小于50μm的結(jié)構(gòu)進(jìn)行精確測(cè)量。

特別是在處理非常小的結(jié)構(gòu)時(shí)，如果要檢查大量隨機(jī)的樣品，單獨(dú)選擇每個(gè)測(cè)量位置需要花費(fèi)大量時(shí)間。但是，借助Fischer開(kāi)發(fā)的圖像識(shí)別軟件，您可以省去這些時(shí)間。只需存儲(chǔ)一個(gè)特征圖像；XDV?-μ PCB儀器會(huì)搜索相應(yīng)的結(jié)構(gòu)并自動(dòng)測(cè)量。

• 配有鎢或鉬的微聚焦管

• 4個(gè)可切換的基本濾片，用于更復(fù)雜的任務(wù)優(yōu)化激發(fā)條件

• 硅漂移檢測(cè)器，用于分析鋁（13）到鈾（92）之間的元素

• 可編程測(cè)量臺(tái)，可選配用于柔性線路板的真空支架

• 用于非常小的測(cè)量點(diǎn)的多毛細(xì)管光學(xué)元件（10或20 μm FWHM）

• 最大樣品尺寸：610 x 610毫米，高10毫米

• 經(jīng)過(guò)許可的全面保護(hù)裝置；

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