菲希爾 X-RAY XDV-SDD X射線熒光分析

XDV?-SDD是Fischer產品組合中功能最強大的X射線熒光分析儀之一。該XRF光譜儀配備了特別靈敏的硅漂移檢測器（SDD）。這使您能夠無損地測量最薄的鍍層，例如引線框架上約2nm厚的金涂層。

同時，XDV-SDD非常適合無損分析材料。例如，它對塑料中痕量鉛的檢測靈敏度約為2 ppm，比RoHS或CPSIA要求的值低幾個數(shù)量級。

為了使您可以為每次測量創(chuàng)建理想的條件，XDV-SDD具有可切換的準直器和基本濾片，這樣就可以科學地進行工作。此外，這種耐用的設備易于操作，而且是專為工業(yè)用途的系列測試而設計。自動擴展的測量平臺和測量現(xiàn)場的實時圖像等功能使您的日常工作更加輕松。

• 高端通用X射線熒光分析儀，用于根據ISO 3497和ASTM B 568標準自動測量超薄鍍層（0.05μm）百萬分之一以下的精細材料分析

• 使用Fischer公司超大有效面積的硅漂移探測器（SDD 50 mm2）

• 6種可切換基本濾片和4種可切換準直器優(yōu)化測量條件

• 分析輕元素，例如鋁，硅和磷

• 樣品高度高達14厘米

• 高精度，可編程XY工作臺，定位精度為5 μm，用于小型結構的自動測量；

• 結構堅固，可進行連續(xù)測試，具有卓越的長期穩(wěn)定性

• 經過認證的全面防護裝置

• 測試電子和半導體工業(yè)中的極薄涂層，例如厚度小于50nm的金和鈀層；

• 在汽車制造業(yè)中測量硬質材料涂層

• 在光伏行業(yè)中測量鍍層厚度

• 根據RoHS、WEEE、CPSIA和其他指令（電子，包裝和消費品）對有害物質如鉛和鎘進行痕量分析

• 黃金，其他貴金屬和合金的分析和真實性測試

• 直接測定功能性NiP涂層中磷的含量

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