特點
根據(jù)DIN ISO 3497和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)進行金屬和貴金屬分析,鍍層厚度測量和RoHS篩查的通用X射線熒光光譜儀
高端半導(dǎo)體檢測器(PIN和SDD) 確保出色的檢測精度和高分辨率
XAN 250和252:用于測量鋁,硅或硫之類的輕元素;
準(zhǔn)直器:固定或4種可切換,最小測量點約為0.3mm
基本濾片:固定或6種可切換
固定樣品支架或手動XY載物臺
攝像頭可輕松定位最佳測量位置
樣品高度最多17厘米;
應(yīng)用
牙科合金的無損分析,銀測試
多層鍍層測試
電子和半導(dǎo)體行業(yè)中厚度為10nm以上的功能涂層的分析
>
消費者保護中的痕量分析,例如測試玩具中的鉛含量
根據(jù)珠寶業(yè)和煉油廠最高精度要求測量金屬合金含量
有任何疑問,請及時與我們溝通!期待您的電鈴!
電話: 0755-89686581
13265803631/鴻澤


















第5年
通過認(rèn)證 





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